HJBZ 21-1998 低铅陶瓷制品
作者:标准资料网 时间:2024-05-15 16:43:43 浏览:9748
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 低铅陶瓷制品 |
| 英文名称： | Low-lead release ceramic tableware |
| 中标分类： |
|
| 替代情况： | 被HBC 24-2004代替 |
| 发布日期： | 1998-02-26 |
| 实施日期： | 2000-03-10 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 2页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类：
【英文标准名称】:Glossaryofbuildingandcivilengineeringterms.Services.Sanitation
【原文标准名称】:建筑及土木工程术语词汇.第3部分:服务设备.第3节:卫生设施
【标准号】:BS6100Sec.3.3-1992
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1992-09-15
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:卫生工程;卫生器具;建筑;建设;施工;排水;给水工程;词汇;建筑系统构件;建设系统
【英文主题词】:construction;drainage;sanitaryappliances;watersupplyandwastesystems(buildings);constructionsystems;vocabulary;constructionsystemsparts;sanitaryengineering;watersupplyengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:P04
【国际标准分类号】:
【页数】:40P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Testingofsemi-conductiveinorganicmaterials;measuringthethicknessofsiliconepitaxiallayerthicknessbyinfraredinterferencemethod
【原文标准名称】:半导体无机材料的试验.用红外线干涉法测量硅外延生长层的的厚度
【标准号】:DIN50437-1979
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1979-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:布置;定义;衬底(绝缘);波长;外延层;尺寸;试验;测量
【英文主题词】:Definition;Definitions;Dimensions;Epitaxiallayers;Layout;Measurement;Substrates(insulating);Testing;Wavelengths
【摘要】:Testingofsemi-conductiveinorganicmaterials;measuringthethicknessofsiliconepitaxiallayerthicknessbyinfraredinterferencemethodEssaisdesmatériauxsemi-conducteursminéraux;mesuredel'épaisseurdesdepotsepitaxiquesdesiliciumaumoyen
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:6P;A4
【正文语种】:德语
